PHOTONITA - Photonical Instruments for Technical Applications

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PHOTONITA M-PLAN

Sistema Óptico automatizado para a medição 3D de superfícies planas e quase planas. Medição óptica 3D com rapidez, exatidão e excelente custo/benefício.


descrição vantagensaplicaçõesespecificações técnicas

O M-Plan é um sistema óptico totalmente automatizado para a medição 3D da superfície de peças planas e quase-planas, utilizando a tecnologia de Moiré.

Apresenta-se nas opções portátil e de bancada, e possui várias configurações ópticas possíveis, de acordo com a profundidade da peça e o nível de exatidão exigido, sempre com um excelente custo/benefício.


Equipamento instalado em sala de testes.
O software de medição é totalmente flexível, de fácil operação e com recursos matemáticos avançados, permitindo programar a medição e obter resultados numéricos e relatórios gráficos customizados.
Com o Photonita M-Plan a geometria de superfícies com profundidades de até 1,5 mm pode ser avaliada com grande riqueza de detalhes, de forma prática e confiável.
Todo o processo de medição é automatizado e em 15 segundos a superfície da peça é digitalizada com até 300.000 pontos medidos, revelando detalhes que nenhum apalpador de medição por contato consegue revelar.

Características

Sistema de medição tridimensional por multi-LED Shadow Moiré, com Módulo de aquisição e processamento digital de imagens de última geração.
Conjunto de movimentação de ultra-precisão controlado por malha fechada e resolução sub-micrométrica
Conjunto óptico com grade de Moiré de alta exatidão e iluminação multi-LED chaveada eletronicamente
Software de medição modular e programável, com recursos para determinar as dimensões, posições e forma de entidades geométricas básicas e complexas; regiões de interesse delimitadas por contornos; planos de alinhamento ajustados a partir de nuvens de pontos; combinação entre elementos geométricos para a medição de distâncias, ângulos e posições relativas; recursos de medição e processamento gráficos avançados em 2D e 3D, incluindo erros de forma e posição, análise de tolerâncias, análise estatística e outras; geração de relatórios gráficos e numéricos e recursos de banco de dados para registro e acompanhamento de histórico de resultados e rotinas de processamento de Controle Estatístico de Processo (CEP) implantadas.

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