Arquivos Mês março 2013

Medição 3D Opto-eletrônica

0

Trabalho de conclusão de curso apresentado ao Centro Universitário da FEI, para conclusão do curso de Pós-graduação em Administração de Empresas para Engenheiros. O trabalho é intitulado: Utilização de Máquinas Opto-Eletrônicas Portáteis de Longo Alcance para Medição Tridimensional como Fator de Otimização Fabril.

Veja mais...

Validação

0

Artigo publicado pelo Prof. André de Souza no congresso Metrologia 2003 sobre a validação de processos de medição por coordenadas em operações de controle da qualidade.

Veja mais...

Nanodeslocamentos

0

Artigo do Prof. Armando Albertazzi sobre um transdutor de deslocamento óptico 2D para medição de erros nanométricos em máquinas de precisão. Em inglês.

Veja mais...

Deforma MMC

0

Artigo do Prof. André de Souza que apresenta uma metodologia de simulação numérica computacional utilizando Elementos Finitos e análises geométricas para estimar a incerteza de uma MMC submetida a uma carga estática, comparando seu comportamento metrológico com o de um corpo rígido. Em inglês.

Veja mais...